Technology for Test - Memory & Burn-in

[반도체 사전] Technology for Test - Memory & Burn-in

Operations

• Massive memory testing
• High Parallel up to x512
• Strip & Film Frame (x300)
• 
  

Test Solution

• Dynamic BI @Hot & Cold
• Memory development

Current Products

• eMMC (NAND + Controller)
• MCP (SDRAM + NAND), POP (SDRAM + ASIC)
• DRAM
• Flash (Singulated / Strip / Film Frame)
• MicroSD
• ASIC

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WRITTEN BY 미스터반

안녕하세요. 'Mr.반'입니다. 반도체 정보와 따끈한 문화소식을 전해드리는 '앰코인스토리'의 마스코트랍니다. 반도체 패키징과 테스트가 저의 주 전공분야이고 취미는 요리, 음악감상, 여행, 영화감상입니다. 일본, 중국, 필리핀, 대만, 말레이시아 등지에 아지트가 있어 자주 출장을 떠나는데요. 앞으로 세계 각 지역의 현지 문화 소식도 종종 전해드리겠습니다.

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